非接触膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚仪测量校正步骤为了是测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。

1、校准标准片

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。

2、基体

标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。

零点校准：就是在该产品的金属底材（无涂层的基体）上进行归零校准；

多点校准：使用标准片来进行校准，这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。

对仪器进行零点校准和多点校准后，就可以直接测量路灯涂层厚度，测量厚度值结果将会在膜厚仪的显示屏上呈现。

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膜厚测量仪测量的基本原理

在膜厚测量仪中，比较流行的测量原理就是电涡流测量原理，我们一起来对电涡流测量原理进行比较详尽的学习，非接触膜厚检测仪厂家，高频的交流信号一般会在侧头线圈中产生一定的电磁场，当测试的探头靠近导体的时候，就会在它的附加产生涡流。

如果测试探头离导体的基体越近，它的涡流就会越大，反射阻抗肯定也会更大。事实上，这是一个反馈作用的过程，这个过程中表征了测试探头与导电基体之间距离的大小，换句话说，这就是导体导电基体上非导电覆层厚度的大小。

采用电涡流测试的原理，原则上需要对导体上的非导电体覆盖层均可以进行测量，技术人员告诉我们，覆层材料是有一定的导电性的，通过校准也是可以同时进行测量的，不过在这其中，非接触膜厚检测仪批发，有一个比较明显的要求就是两个的导电率是相差3到5倍左右。

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荧光膜厚仪介绍

 X射线荧光(XRF)测厚仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，丽水非接触膜厚检测仪，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？

荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，非接触膜厚检测仪哪家好，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。

  荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

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