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光谱膜厚测量仪常用类型及准确操作的小技巧

基体金属特性对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测 如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。

不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。不应在试件的弯曲表面上测量。

通常由于光谱膜厚测量仪的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

测量前,反射膜厚检测仪哪家好,应表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,连云港反射膜厚检测仪,但不要除去任何覆盖层物质。

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涂层膜厚仪校验方法

涂层膜厚仪常用的校验方法就是零点校准以及多点校准。

1.零点校准:就是在该产品的金属底材(无涂层的基体)上进行归零校准。

(1)选定一块调零板,调零板就是无涂层的金属底材。(由于工件表面粗糙度不同,调零后,再测不一定是的零位,这属于正常现象。)

(2)在一起的侧单界面,选择校准,然后零位校准,反射膜厚检测仪价位,然后将探头垂直并平稳地紧压在基体上,反射膜厚检测仪价格,一起会自动进行零位校准。

(3)重复上述的1、2步骤,就可以可以获得更加的零点,提高测量精度。

2.多点校准:使用标准片来进行校准,这种校准方法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。

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涂层膜厚仪特性:

1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统;

2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm;

3)EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,检测层Ni和第三层Ni的厚度);

4)配备高精密微型移动滑轨,可实现多点位、多样品的位移和同时检测;

5)可同时分析23个镀层,24种元素,测量元素范围:氯Cl(17)- 铀U(92),涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92),涂镀层检出限:0.005μm;

6)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作;

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