荧光膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
反射式膜厚测试仪
反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，荧光膜厚仪价格，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。SR可用于测量2纳米到3000微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下，还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。
此外，还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于1秒。
同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用：半导体镀膜，光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜，光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚，颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合
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涂层膜厚仪特性：
1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统;
2)拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm;
3)EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，检测层Ni和第三层Ni的厚度);
4)配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的位移和同时检测;
5)可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl(17)- 铀U(92)，涂镀层分析范围：锂Li(3)- 铀U(92)，常州荧光膜厚仪，涂镀层检出限：0.005μm;
6)人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作;
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光学膜厚仪的应用
光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜，并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量，对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说，精度是关系到产品的组装和性能的，所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量，还能及时的显示出数据。
其次可以计算薄膜厚度，一般采用光干涉法，薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
再次，反射荧光膜厚仪，就是操作方便，效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的，毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作，如果测试又比较繁杂的话，会使人心情焦躁，难免会影响测试时间和测试结果。
而操作方便，容易上手，几秒钟内即可完成测量和数据分析，发展潜力巨大。
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