膜厚测厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚测量仪

膜厚测量仪可以对样品进行非接触式、无损、高精度测量。

产品特性

1、非接触

2、快速、无损

3、高精度

4、进口(WELCH ALLYN)长寿命卤钨灯光源

5、多种高精度算法

6、开放式数据库

应用领域

半导体(硅，光谱膜厚测厚仪，单晶硅，多晶硅)、高分子材料薄膜、液晶显示屏测量、汽车玻璃、光学镀膜测量、聚合物涂料、太阳能电池薄膜测量

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区分涂层测厚仪与无损涂层测厚仪关键性在于哪些方面

涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别，重要如下所述。涂层测厚仪跟无损涂层测厚仪，光学膜厚测厚仪，都是用来丈量资料名义厚度的，然而涂层测厚仪与无损涂层测厚仪之间存在必定的差别。下面咱们详细来先容涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别。

涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别：

涂层测厚仪，重要用在名义处置行业，是用来丈量金属或塑胶名义的涂层厚度。

无损涂层测厚仪，泰安膜厚测厚仪，分为磁性跟涡流两种，也有磁性涡流二合一两用型的。常用于丈量底材是金属的名义镀层的厚度，以是也叫做镀层测厚仪。

磁性测厚仪专丈量磁性金属如钢铁下面镀层厚度(镀层除磁性金属，如钢铁、镍以外)，非磁性的铜、铝、锡等下面的镀层就测不了。涡流测厚仪专丈量非磁性金属，比方铜、铝等下面的绝缘层厚度(涂层必需长短导电资料)。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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非接触膜厚测厚仪-景颐光电(在线咨询)-泰安膜厚测厚仪由广州景颐光电科技有限公司提供。非接触膜厚测厚仪-景颐光电(在线咨询)-泰安膜厚测厚仪是广州景颐光电科技有限公司今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系，索取联系人：蔡晓东。