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非接触式膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

区分涂层测厚仪与无损涂层测厚仪关键性在于哪些方面

涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别,重要如下所述。涂层测厚仪跟无损涂层测厚仪,都是用来丈量资料名义厚度的,然而涂层测厚仪与无损涂层测厚仪之间存在必定的差别。下面咱们详细来先容涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别。

涂层测厚仪与无损涂层测厚仪的差别:

涂层测厚仪,重要用在名义处置行业,非接触式膜厚测试仪批发,是用来丈量金属或塑胶名义的涂层厚度。

无损涂层测厚仪,分为磁性跟涡流两种,非接触式膜厚测试仪价格,也有磁性涡流二合一两用型的。常用于丈量底材是金属的名义镀层的厚度,以是也叫做镀层测厚仪。

磁性测厚仪专丈量磁性金属如钢铁下面镀层厚度(镀层除磁性金属,如钢铁、镍以外),非磁性的铜、铝、锡等下面的镀层就测不了。涡流测厚仪专丈量非磁性金属,比方铜、铝等下面的绝缘层厚度(涂层必需长短导电资料)。


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光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点

随着科技社会发展,光学的应用也越来越广泛,膜厚测厚仪行业发展也越来越好。

它能够避免前期的样品处理,甚至不需要样品来进行试样工作。

传统的测厚仪,在测量物件时,黄石非接触式膜厚测试仪,需要进行样品的预处理,使样品与被测量物件一致,在测量时直接应用于样品测量。而光学测厚仪是直接应用于被测量物体。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。

利用光学膜厚测量仪,它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测,就是因为在测量时,会对物体造成一定程度的表面损坏,为了避免物件的损坏,才会需要应用样品。而光学的测厚仪,虽然直接应用于物件表面,但其它出来的光却是一样没有实质的事物,在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。


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光学膜厚仪的应用

光学膜厚仪广泛应用于各种薄膜,并且还有半导体液晶显示器等一系列的材料和产品的测量。一般的产品我们可以拿尺来进行测量,对精度要求也不高。但是对薄膜等产品来说,非接触式膜厚测试仪厂家,精度是关系到产品的组装和性能的,所以一定要测量。测量仪功能不能能够准确的进行测量,还能及时的显示出数据。

其次可以计算薄膜厚度,一般采用光干涉法,薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、快速的光学薄膜厚度测量技术,我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。

再次,就是操作方便,效率较高。这种优势对于薄膜测试的时候是非常重要的,毕竟薄膜测试是一种比较枯燥的工作,如果测试又比较繁杂的话,会使人心情焦躁,难免会影响测试时间和测试结果。

而操作方便,容易上手,几秒钟内即可完成测量和数据分析,发展潜力巨大。


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