膜厚测厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

反射式膜厚测试仪

反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，光谱膜厚测厚仪，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。SR可用于测量2纳米到3000微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下，还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。

此外，还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于1秒。

同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用：半导体镀膜，光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜，光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚，反射式膜厚测厚仪，颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合

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膜厚仪测量各种材料的涂层厚度

近年来，随着工业化速度的不断加快，人们需要使用大量的先进设备来提高工业生产效率水平，以促进企业自身的发展。然而，膜厚仪是一种高精度的仪器设备，平顶山膜厚测厚仪，具有很好的性能。膜厚测量仪有什么应用？

目前，膜厚仪的应用主要取决于设备的具体分类。由于膜厚测量仪可细分为激光测厚仪、半导体膜厚测量仪，我们需要根据膜厚测量仪的详细分类进行选择。

其中，反射膜厚测厚仪，激光测厚仪是一种非接触式动态测量仪器，可与工业计算机连接，在有效传输数据方面发挥着特殊的作用。

X射线测厚仪是冶金加工业中使用的一种仪器。它可以用进行测量和检测，操作非常简单。

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光学膜厚测量仪

光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无破坏，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。

设备性能指标：

1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；

2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；

3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；

4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；

5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；

6、光源：灯、钨灯；

7、测试波长范围：190nm～1100nm；

8、大测试样品尺寸：8寸。

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光谱膜厚测厚仪-景颐光电价格便宜-平顶山膜厚测厚仪由广州景颐光电科技有限公司提供。广州景颐光电科技有限公司是一家从事“激光雷达反射板,积分球,光纤光谱仪,透光率检测仪等光学仪器”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“景颐光电”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使景颐光电在光学仪器中赢得了客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！