光学膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

荧光膜厚仪介绍

 X射线荧光(XRF)测厚仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，衡水光学膜厚测试仪，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，光学膜厚测试仪价格，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？

荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，光学膜厚测试仪哪家好，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。

  荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

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膜厚仪原理是什么？

在铁基或铝基材料表面涂镀膜是一种重要的表面加工技术，膜的厚度直接影响其性能，故需对其进行有效的测量。常用的方法就是使用膜厚仪直接进行无损测试，光学膜厚测试仪价位，本文就给大家带来膜厚仪使用方法。

膜厚测量方法有哪些？

膜厚测试仪，用于测量铝型材表面氧化膜或绝缘涂层厚度。这种膜厚仪轻便，操作简单，性能稳定，适用于铝型材膜厚现场检测，精度±3%。

膜厚传感器于金属板带表面漆膜厚度连续检测。测量系统根据涂层的红外能量吸收原理和漆膜下的金属表面反射回的能量来测出膜厚。可测量铝容器，密封盖，饮料罐的涂层厚度，测量误差小于50mg/平方米。工厂预先校准功能可使测量系统方便而迅速地投入使用。

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膜厚测量仪能够测涂层厚度吗？

金属镀层的厚度是衡量镀层质量的重要指标之一，将会直接影响材料的使用性能，为了准确的评定金属镀层的厚度，就可以使用膜厚仪来进行检测。本文就给大家带来常用的膜厚测量仪的适用范围，感兴趣的用户不妨来看看吧！      

膜厚仪可以测镀层厚度吗？      

现在已经有很多种采用仪器进行厚度测量的方法。比如采用探头或测试头等对镀层进行直接测量的测厚仪，其原理有磁性法、涡流法、β射线反向散射法、荧光X射线法等。      

应用磁性法的膜厚仪可以快速、准确的无损检测各种涂覆在磁性金属基底上的非磁性涂层厚度。如在钢铁、镍材表面的镀铬层、镀铜层、镀锌层、油漆层、喷粉层等，均可用Fe基探头进行测量。      

而应用涡流法的膜厚仪可以快速、准确的无损测定各种涂覆在非磁性金属基底上的各种不导电的涂层厚度。      

如果用户想要测量镀层厚度，首先就要考虑基材是磁性还是非磁性，然后选定不同的测试方法来进行检测。

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