反射膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

测厚仪膜厚仪检测镀层厚度的原理

磁性测厚法是利用被测试样与标准磁体之间的吸引力的变化来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层，如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地测量出结果。      

磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层提供了一种快速的测量方法，其准确度可达85%-90%。测量样件的粗糙度对测量结果有影响。

如果被测件的基体很薄时，比如样片厚度低于0.25mm时，会有较大测量误差，反射膜厚测量仪批发，这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少误差。      

磁性法的缺点是受磁性能要求的限制，所以适应于该方法的基体材料和镀层有限。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，泰州反射膜厚测量仪，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，反射膜厚测量仪价格，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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膜厚仪测量各种材料的涂层厚度

近年来，随着工业化速度的不断加快，人们需要使用大量的先进设备来提高工业生产效率水平，以促进企业自身的发展。然而，膜厚仪是一种高精度的仪器设备，具有很好的性能。膜厚测量仪有什么应用？

目前，膜厚仪的应用主要取决于设备的具体分类。由于膜厚测量仪可细分为激光测厚仪、半导体膜厚测量仪，我们需要根据膜厚测量仪的详细分类进行选择。

其中，激光测厚仪是一种非接触式动态测量仪器，可与工业计算机连接，在有效传输数据方面发挥着特殊的作用。

X射线测厚仪是冶金加工业中使用的一种仪器。它可以用进行测量和检测，操作非常简单。

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