半导体膜厚检测仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚测量仪

膜厚测量仪可以对样品进行非接触式、无损、高精度测量。

产品特性

1、非接触

2、快速、无损

3、高精度

4、进口(WELCH ALLYN)长寿命卤钨灯光源

5、多种高精度算法

6、开放式数据库

应用领域

半导体(硅，单晶硅，半导体膜厚检测仪哪家好，多晶硅)、高分子材料薄膜、液晶显示屏测量、汽车玻璃、光学镀膜测量、聚合物涂料、太阳能电池薄膜测量

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荧光膜厚仪介绍

 X射线荧光(XRF)测厚仪，半导体膜厚检测仪批发，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，半导体膜厚检测仪价格，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF，X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence)，利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。荧光膜厚仪又是什么呢？

荧光膜厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。

  荧光膜厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

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膜厚测试仪

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理时，湖州半导体膜厚检测仪，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

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